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配置
最低成本的系统是单一样品，传统的设备。这一系统可以替换配置成一个双样品或六个样品的仪器。(如果订购了多样品炉子，单样品系统也可以在日后升级为多样品系统。)
整个的样品的圆盘转动架被连续加热，全部的样品保持在同一温度下，进行快速按顺序的测量。仪器自动进行样品圆盘转动架的换位，精确的把每一个样品置于光路中的测量位置。
用高质量的锑化铟探测器探测样品后表面的温升曲线。根据温度范围的不同，用置于样品附近的热电偶或光学高温计来测量样品温度。由于炉子的温度高均匀性，样品的温度保持在±0．5℃内。直接从温度编程软件可以得到很高的分辨读数(±0．1℃)。
基本仪器
包括遥控的一级钕玻璃激光器(最大能量约35焦耳)，完全与炉子顶端部件互相锁定的光纤激光能量引导系统，脉冲波形传感光纤联路，脉冲波形接受电路，内装准直激光，样品丢失探测器，控制计算机(当前型号，带有外围设备)，具有基本分析方法(Parker,
Degiovanni, 基本Koski 方法)的软件。
加热炉
每一炉子组件都完全配备各自的电源，温度控制模块，以及所有辅助子模块(过温控制，安全互锁等)。对应独自的温度范围，提供热电偶或光学高温计。每一炉子装备有可气动锁定的快速更换窗口。
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室温测量系统 |
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超高温石墨炉 |
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超高温钨炉 |
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堪塔尔高级电阻炉 |
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高速冷却炉 |
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高压炉 |
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低温炉 |
样品架结构
每一结构由两部份组成
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样品换位模式：包括电子控制，换位和定位传动装置，及不同炉子模式的转换界面
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样品支持结构-有两个基本的配置 |
辅助模块
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全温度范围内探测器 |
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真空泵/真空计-中级 |
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一级真空模式 |
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二级真空度模式 |
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氢气安全净化系统 |
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可调脉宽 |
参考样品
虽然闪光法本身是绝对方法(不需要其他的标准来定标)，但是仍建议定期进行验证实验，来确保仪器处于正常的状态。对于比热的测量，必须使用标准样品。所有的参考样品都具有适当证明书及可安装到计算机的数据文件。
附件
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熔融样品架 |
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粉末样品架 |
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专用样品架 |
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间隔环 |
可选择的软件
FL5000标准配置提供视窗(WindowsTM)操作系统下的功能强大的操作及数据处理软件包。增强的扩展(高级)软件可以集成在主程序中，或者作为独立的后续实验数据分析程序。
比热容确定程序(可加模式)
在比热测量的模式下运行测量系统，交替的从未知样品和标准样品的测量中得到数据。可提供辐射率不同的修正。要求双样品或多样品的安装类型。
把闪光法技术应用于测量比热是基于以定量的方式交替测量已知(参考)样品和未知样品，从两者间的不同行为得到测量结果。达到这样的目的，要求在闪光照射标准样品和未知样品的时间间隔内，闪光的能量保持稳定。使用多样品技术的换位操作模式，这一要求得到完全的满足。这是因为系统在测量参考样品之后立即测量未知样品，间隔时间很短，又同处于完全的热环境中。在这些条件下，所得的结果等同于或优于使用传统方法，例如用示差扫描量热计所得到的结果。(关于局限性的讨论以及与其它厂商的同类仪器比较的讨论，可以参阅技术文件71，可联系索求。)
附加分析程序(可加模式)
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克拉克-泰勒模型，最小二乘法， 一维，二维 |
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高级考思基模型，考虑热损参数，科文 |
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对数模型，一维，二维， |
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非线性 一维，二维 |
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拟合优度统计 |
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双层样品分析 |
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双层及三层样品分析 |
高级后期分析软件(独立程序)
高级后 续分析 (独立的程序) 是热扩散率测量数据分析的最先进的数据操作软件。包含一套完整的修正方法，有克拉克-泰勒模型，最小二乘法
一维及二维， 考虑热损参数的高级考思基模型 ，科文对数模型一维及二维 ，动量 一维及二维， 非线性 一维及二维，拟合优度统计。在其它的特点中，可以容易进行假设各种参数的实验模拟计算，对不同的结果曲线进行比较等。
导热系数的确定
导热系数可以通过热扩散系数，比热，已知的密度来计算出来。因此，运行某一个系统可以通过测量的比热(或另外输入的)，热扩散率，和另外输入的密度，自动求出导热系数。
数据输出
输出数据到Excel或其他的软件(ASCII 格式)
为了以更低的价格，能在温度达到1100℃范围内测量小和大的样品，应该考虑选择FL-3000TM系统。
要求特殊性形式
请求行情, 请填好我们的要求特殊性形式。
规格是随时变化没有通知。
受美国专利号6,375,349的保护
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E1461